上海儀電 760CRT上海儀電 原上海精科/上分 760CRT紫外可見分光光度計

上海儀電 760CRT紫外可見分光光度計

主要特點：

●采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。

● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。
● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）
● 功能較強的光譜處理能力。

軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。
● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。
● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
● 時間掃描可進行動力學研究。
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。
● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。
● 打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。

技術指標：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
● 波長范圍：190nm～900nm
● 分辯率：優于0.15nm
● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調
● 波長zui大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）
● 波長重復性：0.2nm
● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
● 透射比zui大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 掃描速度：快、中、慢
● 穩定性：≤±0.004A/30min
● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）

上海儀電 原上海精科/上分 760CRT紫外可見分光光度計

上海儀電 原上海精科/上分 760CRT紫外可見分光光度計

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